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AIM-Aktuell: Aufklärung von Produktionssteuerungsproblemen


Aktuelles Treffen des AIM-Arbeitskreises EREG in Frankfurt

PANMOBIL berichtet regelmäßig über die Arbeit des Verbandes für Automatische Identifikation, Datenerfassung und Mobile Datenkommunikation, kurz „AIM“. Das aktuelle Treffen des AIM-D-Arbeitskreises EREG (European RFID Expert Group) in Frankfurt/Main diskutierte mögliche Qualitätskriterien für die Abstimmung von RFID-Tags und RFID-Readern und die generelle Verantwortlichkeit bei der Entsorgung von Chipkarten und Labels.